Creato microscopio con 'supervista' a raggi x

ROMA, 9 AGO – Un nuovo microscopio a raggi X in grado di penetrare a grandissime profondita' negli oggetti – fino al miliardesimo di metro – e' stato sviluppato da un gruppo di fisici della UC di San Diego. Lo strumento e', per la prima volta, in grado di rivelare e visualizzare dettagli fino a un singolo nanometro.

I ricercatori, che hanno pubblicato il loro lavoro su Proceedings of the National Academy of Sciences, hanno sviluppato un software in grado di convertire in immagine le informazioni date dai raggi X che 'rimbalzano' tra le strutture nanometriche. ''Quello che abbiamo fatto – ha spiegato Oleg Shpyrko, uno dei responsabili del progetto – e' stato mostrare per la prima volta le strutture magnetiche dei materiali a scale nanometriche''.

Le possibili applicazioni date da questo potente microscopio a raggi X sono moltissime in quanto consente di poter manipolare con grande precisione e in scale micrometriche qualsiasi materiale, e nell'immediato e' gia' previsto lo sviluppo di nuovi e molto piu' piccoli sistemi per l'archiviazione dei dati. ''Considerando che gli hard disk di oggi – ha spiegato Eric Fullerton, co-autore della ricerca pubblicata – sono caratterizzati da 'blocchetti' magnetici per l'immagazzinamento dei dati di circa 15 nanometri, da adesso avendo la capacita' di poter visualizzare l'immagine a scala nanometrica, e' possibile realizzare 'blocchetti' molto piu' piccoli ma comunque capaci e quindi sistemi di memoria enormemente piu' potenti''.

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